
氮化鋁是一種高性能的陶瓷材料,其核心特性完美契合了半導(dǎo)體設(shè)備的高端需求:
極高的導(dǎo)熱率:這是它最核心的優(yōu)勢。氮化鋁的導(dǎo)熱系數(shù)通常在 150-220 W/(m·K) 之間,遠(yuǎn)高于大多數(shù)金屬和普通陶瓷(如氧化鋁約30 W/(m·K)),是理想的導(dǎo)熱介質(zhì)。
優(yōu)異的電絕緣性:與高導(dǎo)熱性的金屬(如銅、鋁)不同,氮化鋁是絕緣體。這對于需要電氣隔離的半導(dǎo)體應(yīng)用至關(guān)重要,可以避免短路和信號干擾。
與硅相匹配的熱膨脹系數(shù):氮化鋁的熱膨脹系數(shù) (CTE) 與硅晶圓非常接近。這意味著在溫度劇烈變化時,導(dǎo)熱塊和其承載的硅片/芯片會同步膨脹收縮,極大減少了熱應(yīng)力,防止晶圓翹曲或開裂。
高強(qiáng)度和硬度:具有良好的機(jī)械性能,能在高壓、高頻操作下保持形狀穩(wěn)定。
耐高溫和耐腐蝕:能夠承受半導(dǎo)體工藝中常見的等離子體、高溫和化學(xué)環(huán)境。
在半導(dǎo)體設(shè)備中,氮化鋁導(dǎo)熱塊的核心使命是 “精準(zhǔn)的溫度控制”,具體體現(xiàn)在:
高效散熱:將芯片、晶圓或關(guān)鍵部件(如激光器、射頻源)產(chǎn)生的熱量迅速導(dǎo)出,防止過熱導(dǎo)致性能下降、參數(shù)漂移或永久損壞。
等溫化:作為一塊高熱導(dǎo)率的基板,它能使安裝在其表面的部件溫度分布更均勻,消除局部熱點(diǎn),確保工藝或測試的一致性。
溫度穩(wěn)定平臺:在許多測試和工藝中,需要將樣品精確維持在某個溫度(如85°C高溫測試,或-40°C低溫測試)。導(dǎo)熱塊可以快速響應(yīng)溫控系統(tǒng)的變化,并將溫度均勻、穩(wěn)定地傳遞給樣品。
電氣隔離下的導(dǎo)熱:在需要高電位差或避免接地環(huán)路的情況下,提供導(dǎo)熱而不導(dǎo)電的完美解決方案。
半導(dǎo)體測試設(shè)備:
探針臺和測試座:導(dǎo)熱塊常被集成在芯片測試座上。在晶圓級測試或成品測試時,導(dǎo)熱塊確保測試芯片的溫度快速達(dá)到并穩(wěn)定在設(shè)定的測試溫度(從低溫到高溫),保證測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。
老化測試:在高溫老化爐中,承載芯片的板卡或模塊上會使用氮化鋁導(dǎo)熱塊來均勻分布熱量,加速老化過程并提高一致性。
光刻機(jī):
EUV光刻機(jī):內(nèi)部用于固定和冷卻光學(xué)元件的精密部件,可能采用氮化鋁材料,以確保在極高能量密度的極紫外光照射下,光學(xué)元件的熱形變最小,維持成像精度。
光源模塊:高功率激光或等離子體光源產(chǎn)生大量熱量,需要高效的絕緣導(dǎo)熱介質(zhì)來冷卻電極或窗口。
薄膜沉積和刻蝕設(shè)備:
靜電吸盤:雖然靜電吸盤表面通常使用氧化鋁或氮化鋁陶瓷,但其內(nèi)部或基座部分可能集成氮化鋁導(dǎo)熱層,以優(yōu)化從晶圓到冷卻液的熱傳遞路徑。
射頻電極和窗口:在等離子體工藝腔體內(nèi),需要導(dǎo)入射頻功率的電極或觀察窗既要導(dǎo)熱,又要絕緣,氮化鋁是理想選擇。
功率半導(dǎo)體模塊:
在封裝領(lǐng)域,氮化鋁陶瓷基板(直接鍍銅覆銅陶瓷基板,即AlN-DBC/DBA)被廣泛用于IGBT、SiC等大功率器件的封裝,作為芯片的承載體和散熱通道。
精密加工:氮化鋁硬度高且脆,需要用到金剛石磨具進(jìn)行研磨、切割和鉆孔,以達(dá)到微米級的尺寸和平整度公差。表面粗糙度要求極高(Ra < 0.4 μm),以確保與熱源的良好接觸。
金屬化:為了與其他金屬部件焊接或連接,需要在氮化鋁表面進(jìn)行金屬化處理,常見方法有鉬錳法、薄膜沉積 或 活性金屬釬焊,形成可靠的、導(dǎo)熱良好的金屬層(如鎳、金、銅)。
集成流道:在一些高級應(yīng)用中,導(dǎo)熱塊內(nèi)部會直接加工出復(fù)雜的微通道,讓冷卻液(如去離子水)直接流經(jīng)其內(nèi)部,實(shí)現(xiàn)極限散熱能力。